SN74BCT8240ANTG4
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fabricant:
Instrumente aus Texas
Beschreibung:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
Kategorie:
Logik
Spezifikationen
Kategorie:
Integrierte Schaltungen (IC)
Die Logik
Speziallogik
Zahl von Stückchen:
8
Produktstatus:
Veraltet
Typ der Montage:
Durchs Loch
Paket:
Schlauch
Reihe:
74BCT
Logik-Typ:
Scan-Testgerät mit Umkehrpuffern
Lieferanten-Gerätepaket:
24-PDIP
Mfr:
Instrumente aus Texas
Betriebstemperatur:
0°C bis 70°C
Versorgungsspannung:
4.5V ~ 5.5V
Packung / Gehäuse:
24-DIP (0,300", 7,62 mm)
Basisproduktnummer:
74BCT8240
Einleitung
Scan-Prüfvorrichtung mit Umkehrpuffern IC 24-PDIP
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Lagerbestand:
MOQ: