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Logik

BildTeil #BeschreibungfabricantLagerbestandZulassung
Qualität [#varpname#] usine

74SSTUBF32866BBFG

IC BUFFER 25BIT REG DDR2 96-BGA
Renesas Electronics America Inc. ist eine Firma, die
Qualität [#varpname#] usine

SN74AS181ADWR

IC ARITHMETIC LOGIC UNIT 24-SOIC Die Daten werden in einem System gespeichert.
Instrumente aus Texas
Qualität [#varpname#] usine

SY10EL16VAZC TR

Das IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-SOIC
Mikrochiptechnik
Qualität [#varpname#] usine

SY100E416JY-TR

IC LINE RCVR QUINT DIFF 28-PLCC
Mikrochiptechnik
Qualität [#varpname#] usine

MC10EP16DR2G

IC RCVR/DRVR 5V DIFF ECL 8-SOIC
Ein- und zweimal
Qualität [#varpname#] usine

Maximaler Wert für das Produkt:

Dual, ATE-Fahrer/Vergleicher
Analog Devices Inc./Maxim Integrated
Qualität [#varpname#] usine

Die Bezeichnung "R" ist die Bezeichnung für die Bezeichnung der Bezeichnung.

IC TEST-BUS CONTROLLER 24-SOIC ist für die Bereitstellung der erforderlichen Daten zu verwenden.
Instrumente aus Texas
Qualität [#varpname#] usine

CD4007UBM96

IC DUAL COMPL PAIR W/INV 14SOIC
Instrumente aus Texas
Qualität [#varpname#] usine

SY10EP16VZI

IC RCVR HS DIFF 5V/3,3V 8-SOIC
Mikrochiptechnik
Qualität [#varpname#] usine

MC10H180PG

IC ADDER/SUBTR DUAL 2BIT 16-DIP
Ein- und zweimal
Qualität [#varpname#] usine

PI74SSTV16857AE

IC REG BUFFER 14BIT 48TSSOP
Dioden eingebunden
Qualität [#varpname#] usine

Die Bezeichnung der Substanz ist

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC Die Prüfvorrichtung ist in der Lage, die Prüfvorrichtung zu überprü
Instrumente aus Texas
Qualität [#varpname#] usine

CD40117BPWG4

IC-Terminator PROG DUAL 14-TSSOP
Instrumente aus Texas
Qualität [#varpname#] usine

Maximaler Wert für die Angabe des Zustands

IC-integrierte Schaltung
Analog Devices Inc./Maxim Integrated
Qualität [#varpname#] usine

Der Wert der Verbrennungsmenge ist zu messen.

IC INVERTER DUAL COMP 14DIP
Ein- und zweimal
Qualität [#varpname#] usine

MC100EP16TDTR2G

IC RCVR/DRVR 5V DIFF ECL 8-TSSOP
Ein- und zweimal
Qualität [#varpname#] usine

Die Bezeichnung "R" ist die Bezeichnung für die Bezeichnung der Bezeichnung.

IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP: Die Prüfvorgänge sind in der Tabelle 1 beschrieben.
Instrumente aus Texas
Qualität [#varpname#] usine

Die Bezeichnung "CZKER" ist nicht mehr gültig.

IC 25BIT CONFIG REG BUFF 96-BGA
Instrumente aus Texas
Qualität [#varpname#] usine

Der Wert der Verbrennungsmenge ist zu berücksichtigen.

IC SCAN-Prüfvorrichtung ABT 64-LQFP
Instrumente aus Texas
Qualität [#varpname#] usine

N74F656AD,623

IC-Puffer/Treiber OCTAL 24SOIC
NXP USA Inc.
Qualität [#varpname#] usine

Das ist der Fall.

IC-Puffer DDR 13-26BIT 56VFQFPN
Renesas Electronics America Inc. ist eine Firma, die
Qualität [#varpname#] usine

NTE4008B

IC-CMOS 4-BIT FULL ADDER 16-LEAD
NTE Electronics, Inc
Qualität [#varpname#] usine

Die Daten sind in der Tabelle 1 aufgeführt.

IC-Empfänger/DRVR ECL DIFF 8SOIC
Ein- und zweimal
Qualität [#varpname#] usine

Einheit für die Überwachung der Luftfahrt

54F283 4-BIT-BINARISCHE Vollzähler
Instrumente aus Texas
Qualität [#varpname#] usine

Die Bezeichnung "Schienen" ist in Anhang I der Verordnung (EG) Nr. 1372/2008 aufgeführt.

IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SOIC
Instrumente aus Texas
Qualität [#varpname#] usine

Die Bezeichnung "RGB" ist die Bezeichnung für die "RGB" und "RGB".

IC TXRX 8BIT TTL/BTL 52-QFP
Instrumente aus Texas
Qualität [#varpname#] usine

MC100EP16TDR2

IC RCVR/DRVR 5V DIFF ECL 8-SOIC
Ein- und zweimal
Qualität [#varpname#] usine

Die Bezeichnung "Schienen" ist in Anhang I der Verordnung (EG) Nr. 1372/2008 aufgeführt.

IC CONFIG REG BUFFER 25BIT 96BGA
Instrumente aus Texas
Qualität [#varpname#] usine

SY10EL16VBZI-TR

Das IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-SOIC
Mikrochiptechnik
Qualität [#varpname#] usine

Die Bezeichnung "Behinderte" ist die Bezeichnung, die für die Beförderung von Fahrzeugen verwendet wird.

IC-Puffer 25BIT CONF REG 96LFBGA
Renesas Electronics America Inc. ist eine Firma, die
Qualität [#varpname#] usine

SY100EL16VFKI-TR

IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
Mikrochiptechnik
Qualität [#varpname#] usine

CD40117BE

IC-Terminator PROG DUAL 14-DIP
Instrumente aus Texas
Qualität [#varpname#] usine

Der Begriff "Funktion" wird in den folgenden Fällen verwendet:

IC REG BUFFER 13-26BIT 56-VQFN
Instrumente aus Texas
Qualität [#varpname#] usine

Max 9963AGCCQ+D

integrierte Schaltung
Analog Devices Inc./Maxim Integrated
Qualität [#varpname#] usine

MC100EP16VSD

IC RCVR/DRVR ECL DIFF VAR 8SOIC
Ein- und zweimal
Qualität [#varpname#] usine

Die Kommission wird die folgenden Informationen über die Mitgliedstaaten und die Mitgliedstaaten übermitteln:

IC REGIST BUFF 25BIT DDR2 96-BGA
Renesas Electronics America Inc. ist eine Firma, die
Qualität [#varpname#] usine

die in Anhang I Nummern 1 bis 6 aufgeführte Kennzeichnung:518

IC-Puffer 1.8V 56BIT 176-TFBGA
NXP USA Inc.
Qualität [#varpname#] usine

SY100EL16VDZI-TR

Das IC RCVR DIFF 5V/3.3V 16-SOIC
Mikrochiptechnik
Qualität [#varpname#] usine

SY10EL16VCZC TR

Das IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-SOIC
Mikrochiptechnik
Qualität [#varpname#] usine

PI74SSTV16857AEX

IC REGIST BUFF 14BIT DDR 48TSSOP
Dioden eingebunden
Qualität [#varpname#] usine

SSTV16857DGG,512

IC REG DRIVER 14BIT 48TSSOP
NXP USA Inc.
Qualität [#varpname#] usine

MC100EP17DW

IC RCVR/DRV ECL QUAD DIFF 20SOIC
Ein- und zweimal
Qualität [#varpname#] usine

MC10EP16VADT

IC RCVR/DRVR HV ECL DIFF
Ein- und zweimal
Qualität [#varpname#] usine

SY100E212JZ TR

IC-Register 3BIT SCAN 28-PLCC
Mikrochiptechnik
Qualität [#varpname#] usine

CD74ACT283EG4

IC 4BIT BINARY FILL ADDER 16-DIP
Instrumente aus Texas
Qualität [#varpname#] usine

Die in Absatz 1 genannte Bestimmung gilt nicht.

IC REGIST BUFF 25BIT DDR2 96-BGA
Renesas Electronics America Inc. ist eine Firma, die
Qualität [#varpname#] usine

SY100EL16VFKI

IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
Mikrochiptechnik
Qualität [#varpname#] usine

SY100EL16VSZG-TR

IC RCVR DIFF 3.3/5V 8-SOIC
Mikrochiptechnik
Qualität [#varpname#] usine

Die Angabe der Angabe des Zuschlags ist in der Angabe des Zuschlags zu entnehmen.

IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC Die Prüfvorrichtung für IC-Scan-Tests ist die IC-SOIC.
Instrumente aus Texas
Qualität [#varpname#] usine

Die Bezeichnung "R" ist die Bezeichnung für die Bezeichnung, die in der Angabe "R" enthalten ist.

IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC Die Prüfvorrichtung für IC-Scan-Tests ist die IC-SOIC.
Instrumente aus Texas
61 62 63 64 65